MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie

adscale_slot_id="NTNjNjAw"; Neuer pyroelektrischer Messkopf für die schlitzbasierte Strahlprofilmessung im mittleren Infrarotbereich, erweiterter Messbereich für Silizium-Messköpfe MKS erweitert Ophir NanoScan Strahlprofilmessgerät-Serie (Bildquelle: @MKS Ophir) MKS Instruments stellt gleich mehrere Neuerungen für die schlitzbasierten Profilmessgeräte der Ophir NanoScan Serie...

Neue Ophir Kamera zur Strahlprofilmessung von MKS

Schnell und flexibel dank GigE-Schnittstelle Schnell und flexibel: Ophir Spiricon SP920G mit GigE-Schnittstelle (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) Die neue Ophir Spiricon SP920G Kamera von MKS Instruments vereint die Vorzüge einer hochauflösenden CCD-Kamera mit ausgezeichnetem Signal-Rausch-Verhältnis, mit der Flexibilität und Schnelligkeit eines GigE Ethernet-Anschlusses. Dadurch kann...

MKS präsentiert auf der LASYS Ophir Centauri

Tragbares, kompaktes Messgerät zur Messung von Lasersleistung und -energie mit großem Touchscreen Ophir Centauri zeichnet sich durch seinen großen Touchscreen in Vollfarbe aus. (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) Ophir Centauri, ein neues, tragbares Messgerät zur präzisen Messung von Laserleistung und -energie, feiert auf der LASYS in Stuttgart Europa-Premiere. Das neue Messgerät von MKS...

Laser messen: MKS stellt Ophir Focal Spot Analyzer vor

Mit dem Ophir Focal Spot Analyzer lassen sich Laserparameter in der Materialbearbeitung gezielt überwachen Ophir Focal Spot Analyzer überwacht Laserparameter in der Materialbearbeitung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) MKS Instruments präsentiert den Ophir Focal Spot Analyzer. Das Messgerät zur Überwachung des Laserstrahls vermisst den Fokus und die Leistung von Hochleistungs-Lasern in...

Additive Fertigung: MKS Ophir präsentiert BeamWatch AM

Erstes berührungsloses Laserstrahlmessgerät für die Additive Fertigung gewährleistet Reproduzierbarkeit und Qualität BeamWatch AM ermittelt wesentliche Charakteristiken des Laserstrahls in der Additiven Fertigung (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) Leicht, kompakt und gezielt entwickelt für die Anforderungen der Additiven Fertigung: Mit BeamWatch AM stellt MKS Ophir das erste berührungslos...

High Power und Additive Manufacturing im Fokus von MKS Ophir

Nicolas Meunier verstärkt das Business Development Team bei MKS Ophir (Bildquelle: MKS Ophir) MKS Ophir verstärkt sein Engagement in der industriellen Messtechnik sowohl für Hochleistungslaser als auch für Lasersysteme der Additiven Fertigung: Nicolas Meunier verantwortet zukünftig als Business Development Manager die beiden Wachstumsbranchen weltweit. Der erfahrene Ingenieur begleitet die...

NIST-rueckfuehrbarer LED Kalibrierstandard: MKS stellt Ophir FGC100 vor

LED Kalibrierstandard Ophir FGC100 (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) MKS Instruments Inc. stellt mit dem Ophir FGC100 einen NIST-rückführbaren LED Kalibrierstandard für das Ophir FluxGage System vor. FluxGage ist ein kompaktes photometrisches Testsystem für LED-Leuchtmittel, das entscheidende Qualitätsparameter wie Lichtstrom, Farbparameter und Flimmern in einem Gerät misst. Es ersetzt...

Robustes Laserstrahlmessgerät: MKS stellt Ophir BeamSquared 2.0 vor

BeamSquared 2.0 mit erweitertem Funktionsumfang: 3D-Darstellung des Strahls, umfangreiches Reporting, Automatisierungsschnittstelle über .NET- Komponenten und anpassbare Messoptionen MKS stellt mit Ophir BeamSquared 2.0 robustes, tragbares Laserstrahlmessgerät für Daueranwendung vor (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) MKS Instruments stellt die neueste Version des M2-Lasermessgeräts Ophir...

Lasermesstechnik: MKS präsentiert Ophir StarLab 3.30

Neue Software ermöglicht schnelle Netzwerkanbindung und bietet vielfältige Analyseoptionen Ophir StarLab 3.30 verwandelt PCs in leistungsfähige Analysesysteme für Laserleistung und -energie (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) Die Lasermesstechnik-Software Ophir StarLab 3.30 verwandelt PCs in leistungsfähige Analysesysteme für Laserleistung und -energie. MKS Ophir zeigte die neue Version...

MKS Ophir entwickelt Sensoren mit neuer Beschichtung

LP-2 Beschichtung bietet extrem hohe Zerstörschwelle bei niedriger Reflektion Ophir Sensoren mit LP-2 Beschichtung bieten eine extrem hohe Zerstörschwelle (Bildquelle: Ophir Spiricon Europe GmbH) MKS Instruments präsentiert eine neue Serie an Ophir Sensoren zur Messung von Laserenergie und Laserleistung bei gepulsten und CW-Lasern mit sehr hoher Leistungsdichte. Dank der neuartigen LP2-Beschichtung...
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